연구
연구
연구장비
기기분석실
UNIST Materials Characterization Lab
- 2009년 UNIST 개교와 함께 설립. 현재 전자현미경 분석실, 분광 분석실, X선 분석실, 질량 분석실, 표면 분석실 그리고 열 및 물성 분석실로 6개의 세부 분석실로 구성
- 최첨단 고가 장비가 집적된 융합 연구인프라 구축으로 고정밀, 고분해능 분석기법 선도 및 신규 분석기법 개발지원
시설 현황
| 내용 | 세부내용 | ||
|---|---|---|---|
| 면적(㎡) | 2,061 | ||
| 장비 구성(대) | 전자현미경분석실 | 31 | Advanced TEM, HR-TEM, CS-STEM, Normal-TEM, Bio-TEM, FE-TEM, FIB(3), SEM(5), Ultramicrotome(2), PECS, 전자현미경 시편전처리 장비(14) |
| X선 분석실 | 6 | HPXRD, NXRDX, HRXRD, HRPXRD, MPHPXRD, XRF | |
| 열 및 물성 분석실 | 7 | TGA, DMA, DSC, SDT, Seebeck Coefficient analyser, Dilatometry | |
| 분광분석실 | 9 | FT-NMR(2), Zeta Potential, FT-IR UV-Vis-NIR Microspectrometer, UV-Vis-NIR(2), AFM-Raman, Confocal Raman | |
| 질량분석실 | 8 | MALDI-TOF/TOF, GC/MS/MS, LC/MS/MS (ESI-MS), GPC-MALS, DART-HRMS, UPLC/MS/MS, EA(2) | |
| 표면분석실 | 7 | TOF-SIMS, XPS, XPS (UPS), AFM (2), BET (2) | |
| 공정건수 / 가동률 | 총 분석 건수 : 41,501건 (내부 37,987 + 외부 업체 3,421 + 외부 개인 93) 연구장비 평균 가동률 : 95.7% (2020년 기준) | ||
표면 분석
TOF–SIMS, XPS, XPS/UPS, AFM
표면 조성, 분자구조, 미량원소 분석, 깊이 분포도 분석을 통한 3차원 분석
전자현미경 분석
TEM(5), SEM(4), FIB(2), Sample prep.
원자레벨에서 나노스케일의 미세조직 관찰 및 높은 감도의 전자이미징, 회절패턴 분석, 나노소자제작, 나노스케일 패터닝 및 이미지 관찰
질량 분석
MALDI-TOF/TOF, GC/MS/MS, LC/MS/MS, DART-MS, GPC-MALS, EA(2)
거대유기분자의 분자량 확인, 불순물 및 부산물 분석, 화합물 정성/정량 분석
분광 분석
NMR(2), FT-IR, Raman(2), UV-Vis-NIR(2), UV-Vis Microspectrometer, Fluorometer(3), Zeta sizer
창의적 소양 및 기업가 정신을 지닌 인재 양성 신소재/화학/물리/기계/인프라 융합교육 일반/산학 학생 공동 연구 프로젝트
X선 분석
XRD(6), XRF
결정구조, 화학조성, 물질이나 박막의 물리적 특성 분석,격자이탈 두께, 거칠기, 밀도, 기판과 박막의 배향분석
열 및 물성 분석
Rheometer, 열분석기(4), 열팽창계수기, 열전소자측정기
열분해, 열안정성, 산화안정성, 유리전이온도, 비열, 용융점, 결정화도 등 측정
